上海恒平紫外可见分光光度计754

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  • 更新时间 2014/8/7 0:00:00
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波长范围:190-1100nm
带宽:4nm
详细介绍

754型紫外可见分光光度计

本产品适用于对紫外、可见光谱区域内物质的含量进行定量分析,可广泛应用于工厂、学校、冶金、农业、食品、生化、环保、石油化工、医疗卫生及各科研等单位实验室。
自动波长,键盘输入,波长设定和转换更快速。一阶过零、一阶线性标准曲线测试,最多可建立12个标样点的标准曲线。标定曲线拟合,浓度直读,可保存50条曲线参数。浓度因子设定和浓度设定的浓度直读功能,可保存200条测试记录。系统时钟管理,暗电流校正,波长校正,USB数据接口,灯切换波长设置。


参数:

单色器:C-T式单色器,1200线全息光栅
检测器:硅光二极管
显示器:128×64大屏幕液晶显示
光源:卤钨灯20W/12V,氘灯,光源切换波长可设定
光谱带宽:4nm
波长范围:190~1100nm(步进间隔0.1nm)
波长最大允许误差 ±1.0nm(开机自动校准)
波长重复性:≤0.5nm
稳定性:暗电流<0.2%T 、亮电流<0.5%T
杂散光:≤0.3%T(在220、360nm处)
测定范围:T:-1.0~200.0%T ,A:-0.5~3.000Abs,F:0~9999,C:0~9999
透射比最大允许误差 ±0.5%T
透射比重复性:≤0.2%T
数据输出:USB接口,LPT并行打印接口
电源:220V±10%  50Hz,70W
外形尺寸:456×375×220 mm
净重:17.5kg



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